一种集成电路封装测试辅助装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202322437245.8
申请日
2023-09-08
公开(公告)号
CN220975744U
公开(公告)日
2024-05-17
发明(设计)人
梁大明 曹清波
申请人
上海中艺自动化系统有限公司
申请人地址
200000 上海市浦东新区郭守敬路498号14幢22301-642座
IPC主分类号
B65G47/90
IPC分类号
B65G35/00 G01R31/28
代理机构
深圳众邦专利代理有限公司 44545
代理人
李国松
法律状态
授权
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
孟晓南 .
中国专利 :CN218445814U ,2023-02-03
[2]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
高宏玲 ;
翟腾 ;
申武鑫 ;
贾庆 .
中国专利 :CN215986363U ,2022-03-08
[3]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
孟健 .
中国专利 :CN221148843U ,2024-06-14
[4]
集成电路封装测试装置 [P]. 
李志军 ;
朱永斌 ;
邱嘉龙 ;
何祖辉 ;
邱秀华 .
中国专利 :CN212542356U ,2021-02-12
[5]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
苏常 ;
张佳欢 .
中国专利 :CN220729889U ,2024-04-05
[6]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
陈益群 ;
袁泉 ;
黄旭超 .
中国专利 :CN215496633U ,2022-01-11
[7]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
杨思广 .
中国专利 :CN220913291U ,2024-05-07
[8]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
陈庆德 .
中国专利 :CN218309457U ,2023-01-17
[9]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
袁园 .
中国专利 :CN221765661U ,2024-09-24
[10]
一种集成电路封装测试装置 [P]. 
殷国海 .
中国专利 :CN221303489U ,2024-07-09