基于图像处理的光学薄膜质量检测方法及相关装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311635399.6
申请日
2023-12-01
公开(公告)号
CN117333492A
公开(公告)日
2024-01-02
发明(设计)人
付志峰
申请人
深圳菲尔泰光电有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道麻磡南路31号5栋3楼及4楼
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06N3/0464 G06N3/08 G06V10/44 G06V10/764 G06V10/82
代理机构
郑州明邦知识产权代理事务所(普通合伙) 41243
代理人
周秉彦
法律状态
公开
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
基于图像处理的光学薄膜质量检测方法及相关装置 [P]. 
付志峰 .
中国专利 :CN117333492B ,2024-03-15
[2]
一种基于图像处理的光学薄膜质量检测方法 [P]. 
郑少宏 ;
郑少英 ;
郑少伟 .
中国专利 :CN120976134A ,2025-11-18
[3]
基于图像处理的图像质量检测方法及相关装置 [P]. 
孙宁 ;
徐碧云 ;
袁益琴 .
中国专利 :CN111739014A ,2020-10-02
[4]
基于图像处理的塑料薄膜质量检测方法 [P]. 
张仪 .
中国专利 :CN117437235A ,2024-01-23
[5]
基于图像处理的塑料薄膜质量检测方法 [P]. 
张仪 .
中国专利 :CN117437235B ,2024-03-12
[6]
光学薄膜的处理方法、光学薄膜的处理装置及光学薄膜的制造方法 [P]. 
森永义章 ;
中嶋孝治 ;
田中武志 .
中国专利 :CN101223025B ,2008-07-16
[7]
基于图像处理的PVC薄膜质量检测方法 [P]. 
洪良清 .
中国专利 :CN114742749A ,2022-07-12
[8]
一种基于图像处理的硅胶薄膜质量检测方法及系统 [P]. 
袁玲 ;
刘军保 .
中国专利 :CN120525842A ,2025-08-22
[9]
光学薄膜检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
黄俊杰 ;
陈韦廷 ;
康嘉滨 .
中国专利 :CN105334217A ,2016-02-17
[10]
光学薄膜的制造方法、光学薄膜及光学薄膜的制造装置 [P]. 
仲井宏太 ;
田中悟 ;
须藤定治 .
中国专利 :CN103119482A ,2013-05-22