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用于检查STT-MRAM中的有缺陷的MTJ单元的方法和系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311733066.7
申请日：
2019-03-26
公开(公告)号：
CN117746938A
公开(公告)日：
2024-03-22
发明(设计)人：
宋润洽
申请人：
三星电子株式会社
申请人地址：
韩国京畿道水原市
IPC主分类号：
G11C11/16
IPC分类号：
G01R31/27
G01R31/26
H10B61/00
代理机构：
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286
代理人：
张利;张川绪
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-04-09 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 11/16申请日:20190326 |
| 2024-03-22 | 公开 | 公开 |