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台上测试装置以及台上测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202280038097.8
申请日
:
2022-05-27
公开(公告)号
:
CN117396741A
公开(公告)日
:
2024-01-12
发明(设计)人
:
川添宽
申请人
:
株式会社堀场制作所
申请人地址
:
日本京都府
IPC主分类号
:
G01M17/007
IPC分类号
:
代理机构
:
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人
:
崔迎宾;鹿屹
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-12
公开
公开
2024-02-09
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01M 17/007申请日:20220527
共 50 条
[1]
测试装置以及测试方法
[P].
饭岛匡史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
饭岛匡史
;
木村英明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
木村英明
.
日本专利
:CN120265998A
,2025-07-04
[2]
测试装置以及测试方法
[P].
大空聡
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
大空聡
;
中川哲郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
中川哲郎
;
角田慎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
角田慎
;
高岩伸贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高岩伸贤
.
中国专利
:CN100559204C
,2006-08-16
[3]
测试装置以及测试方法
[P].
张藏文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张藏文
;
朱鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱鹏
.
中国专利
:CN107863302A
,2018-03-30
[4]
测试装置、以及测试方法
[P].
大岛直哉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日挥株式会社
日挥株式会社
大岛直哉
.
日本专利
:CN119654554A
,2025-03-18
[5]
测试装置以及测试方法
[P].
丘向忠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丘向忠
;
梁金
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁金
.
中国专利
:CN101520372A
,2009-09-02
[6]
测试装置以及测试方法
[P].
何羽轩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
新唐科技股份有限公司
新唐科技股份有限公司
何羽轩
.
中国专利
:CN120446702A
,2025-08-08
[7]
测试装置以及测试方法
[P].
市吉清司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
市吉清司
.
中国专利
:CN101231325B
,2008-07-30
[8]
测试装置以及测试方法
[P].
滝泽圭佑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
滝泽圭佑
;
桥本礼一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
桥本礼一
.
中国专利
:CN104955074B
,2015-09-30
[9]
测试装置以及测试方法
[P].
市吉清司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
市吉清司
.
中国专利
:CN100432689C
,2006-04-05
[10]
测试装置以及测试方法
[P].
小泽大树
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小泽大树
;
佐藤新哉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
佐藤新哉
.
中国专利
:CN101310342A
,2008-11-19
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