一种芯片测试座检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311870585.8

申请日：

2023-12-29

公开(公告)号：

CN117590202A

公开(公告)日：

2024-02-23

发明(设计)人：

彭瑞孙成思何瀚王灿徐永刚童炜

申请人：

成都态坦测试科技有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市高新区合顺路2号2号楼1单元12层1号、2号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

郭晨晨

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231229
2024-02-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片测试座检测装置 [P].

彭瑞 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

童炜 .

中国专利 :CN221827012U ,2024-10-11

[2]

一种芯片测试座检测装置 [P].

张佳天 ;

孙孝辉 ;

方琪 ;

陈勇 ;

袁俊 ;

张传益 .

中国专利 :CN217360164U ,2022-09-02

[3]

一种芯片检测装置 [P].

郑澎 ;

罗旺宝 ;

郑曙涛 ;

莫树任 .

中国专利 :CN212275892U ,2021-01-01

[4]

一种芯片测试座的压力检测装置及检测方法 [P].

刘长青 .

中国专利 :CN117406067B ,2024-02-13

[5]

一种芯片测试座的压力检测装置及检测方法 [P].

徐贤修 ;

徐名俊 .

中国专利 :CN120722164A ,2025-09-30

[6]

一种芯片测试座的压力检测装置及检测方法 [P].

刘长青 .

中国专利 :CN117406067A ,2024-01-16

[7]

一种芯片外观检测装置 [P].

付永华 ;

贺新军 ;

董建军 ;

丁雄 ;

夏水平 ;

高陆健 .

中国专利 :CN119804777A ,2025-04-11

[8]

一种滚轮芯片测试座 [P].

李明辉 .

中国专利 :CN221883833U ,2024-10-22

[9]

芯片测试座清洁装置及芯片测试设备 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117548429A ,2024-02-13

[10]

测试座（芯片测试座） [P].

李军 ;

李天雨 .

中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13

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