一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311829251.6

申请日：

2023-12-28

公开(公告)号：

CN117745699A

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

陆佳磊李宝同

申请人：

苏州凌云光工业智能技术有限公司

申请人地址：

215100 江苏省苏州市吴中经济开发区双祺路6号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T5/70 G06T5/94 G06T7/60

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

朱彩银

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231228
2024-03-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

张武杰 ;

付发 .

中国专利 :CN118115438A ,2024-05-31

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334A ,2024-02-09

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陈路燕 ;

聂磊 .

中国专利 :CN118212175A ,2024-06-18

[4]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

韩东禄 ;

黄书茂 ;

陈胜威 ;

陈志鹏 .

中国专利 :CN117538334B ,2024-05-24

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

郭凯 ;

李小龙 ;

王锐拓 ;

刘伟星 ;

秦纬 ;

彭宽军 .

中国专利 :CN110349145B ,2019-10-18

[6]

缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

陈凡 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120563501B ,2025-11-07

[7]

缺陷检测方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

陈凡 ;

黄雪峰 ;

杨超 .

中国专利 :CN120563501A ,2025-08-29

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

刘小磊 ;

王云奇 ;

彭项君 ;

赵晨曦 ;

楚明磊 ;

陈丽莉 .

中国专利 :CN110766736A ,2020-02-07

[9]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

陆佳磊 ;

李宝同 .

中国专利 :CN117745701A ,2024-03-22

[10]

一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

魏世峰 ;

方云 .

中国专利 :CN121010569A ,2025-11-25

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