横向位移测量系统、方法、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311571484.0

申请日：

2023-11-22

公开(公告)号：

CN117606361A

公开(公告)日：

2024-02-27

发明(设计)人：

罗先刚郭迎辉张其蒲明博商英杰乔思源张飞

申请人：

中国科学院光电技术研究所

申请人地址：

610000 四川省成都市武侯区人民南路四段九号

IPC主分类号：

G01B11/02

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

杨斌

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/02申请日:20231122
2024-02-27	公开	公开

共 50 条

[1]

位移测量方法、位移测量装置、电子设备及存储介质 [P].

陈凯 ;

涂春江 .

中国专利 :CN119714142A ,2025-03-28

[2]

BRDF测量系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

吴志峰 ;

何思捷 ;

代彩红 ;

李玲 ;

王彦飞 .

中国专利 :CN115356298B ,2022-11-18

[3]

位移测量设备及其位移测量方法和存储介质 [P].

藤原馨 .

中国专利 :CN111175776A ,2020-05-19

[4]

位移测量设备及其位移测量方法和存储介质 [P].

藤原馨 .

日本专利 :CN111175776B ,2024-08-13

[5]

位移测量方法、系统、设备以及可读存储介质 [P].

符建 ;

刘旭 ;

匡翠方 ;

丁志华 .

中国专利 :CN120491090A ,2025-08-15

[6]

光学结构位移测量方法、系统及存储介质 [P].

于姗姗 ;

王卫国 .

中国专利 :CN113959341A ,2022-01-21

[7]

光学结构位移测量方法、系统及存储介质 [P].

于姗姗 ;

王卫国 .

中国专利 :CN113959341B ,2024-04-26

[8]

光功率测量装置、方法、设备及存储介质 [P].

齐福鑫 ;

高文刚 .

中国专利 :CN120369284B ,2025-10-10

[9]

光功率测量装置、方法、设备及存储介质 [P].

齐福鑫 ;

高文刚 .

中国专利 :CN120369284A ,2025-07-25

[10]

拉曼光谱测量设备、方法、设备及存储介质 [P].

张昕 ;

苏贵鑫 ;

曾钦阳 ;

梅新宇 ;

谭平恒 .

中国专利 :CN119880871A ,2025-04-25

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