衍射检测装置、检查设备以及检查系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202223585060.3

申请日：

2022-12-30

公开(公告)号：

CN220356970U

公开(公告)日：

2024-01-16

发明(设计)人：

陈志强张丽黄清萍李元景冯博张立国李桂培何志锋

申请人：

同方威视技术股份有限公司清华大学

申请人地址：

100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

IPC主分类号：

G01N23/20

IPC分类号：

G01N23/04

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

胡良均

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-16	授权	授权

共 50 条

[1]

检查设备、检查方法以及检查系统 [P].

张丽 ;

陈志强 ;

李元景 ;

黄清萍 ;

冯博 ;

张立国 ;

何志锋 ;

李桂培 .

中国专利 :CN118707612A ,2024-09-27

[2]

检查设备、检查方法和检查系统 [P].

张丽 ;

陈志强 ;

李元景 ;

黄清萍 ;

冯博 ;

张立国 ;

李桂培 ;

何志锋 ;

常铭 .

中国专利 :CN118707613A ,2024-09-27

[3]

扫描检查设备以及扫描检查系统 [P].

冯顺昌 ;

史俊平 ;

宋全伟 ;

何远 ;

樊旭平 ;

宗春光 .

中国专利 :CN112946770A ,2021-06-11

[4]

图像检查设备,图像检查系统以及图像检查方法 [P].

北井正 .

中国专利 :CN104063836B ,2014-09-24

[5]

检查单元以及检查系统 [P].

库知文 .

中国专利 :CN210427645U ,2020-04-28

[6]

检查装置以及检查系统 [P].

冈田敬夫 ;

田中隆 ;

竹下洸资 .

中国专利 :CN107209126B ,2017-09-26

[7]

检查装置以及检查系统 [P].

并木勇太 .

中国专利 :CN109557099A ,2019-04-02

[8]

检查装置以及检查系统 [P].

加屋野博幸 ;

平冈俊郎 .

中国专利 :CN104459806A ,2015-03-25

[9]

移动式辐射检查设备以及移动式辐射检查系统 [P].

孙尚民 ;

宗春光 ;

杨学敬 ;

樊旭平 ;

宋全伟 ;

史俊平 ;

孟辉 ;

杨洋 ;

喻卫丰 ;

李营 ;

王东宇 ;

刘磊 ;

刘必成 ;

迟豪杰 .

中国专利 :CN217060528U ,2022-07-26

[10]

检查装置、检查系统以及检查方法 [P].

小口智 ;

久利龙平 ;

金井政史 .

中国专利 :CN110220922A ,2019-09-10

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