可控硅检测仪及可控硅性能检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111128720.2

申请日：

2021-09-26

公开(公告)号：

CN114047419B

公开(公告)日：

2024-06-07

发明(设计)人：

孟轩金勇范

申请人：

西门子工厂自动化工程有限公司

申请人地址：

100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/327

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-07	授权	授权

共 50 条

[1]

可控硅检测仪及可控硅性能检测方法 [P].

孟轩 ;

金勇范 .

中国专利 :CN114047419A ,2022-02-15

[2]

复用小功率可控硅检测仪 [P].

李国彪 .

中国专利 :CN202171637U ,2012-03-21

[3]

一种可控硅检测仪 [P].

李国彪 .

中国专利 :CN102735952A ,2012-10-17

[4]

矿井电机车可控硅检测仪 [P].

王克刚 ;

孔令堂 ;

孙立伟 .

中国专利 :CN2906635Y ,2007-05-30

[5]

可控硅检测装置 [P].

付建忠 ;

李吉虎 .

中国专利 :CN203396906U ,2014-01-15

[6]

可控硅检测工装 [P].

徐书辰 .

中国专利 :CN215180495U ,2021-12-14

[7]

可控硅检测电路 [P].

王勇 ;

吴志明 ;

白清利 ;

刘建伟 ;

董晓勇 .

中国专利 :CN201555929U ,2010-08-18

[8]

可控硅检测装置 [P].

梁武斌 .

中国专利 :CN203572923U ,2014-04-30

[9]

可控硅模块的性能检测装置和性能检测方法 [P].

武慧邦 ;

张玉强 ;

杨文斌 ;

冶玉清 ;

艾合买提.阿不都热依木 ;

杨振洪 ;

赵正强 ;

高丽 ;

杨柳 ;

李勇 ;

薛涛 ;

陈永泉 ;

胡小东 ;

尚保旗 ;

潘文龙 ;

班永柱 ;

蔡世超 ;

张万喜 .

中国专利 :CN119780644A ,2025-04-08

[10]

可控硅组件及可控硅整流装置 [P].

梁国胜 ;

吴建安 .

中国专利 :CN202930378U ,2013-05-08

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