可控硅检测工装

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202120950680.9
申请日
2021-05-06
公开(公告)号
CN215180495U
公开(公告)日
2021-12-14
发明(设计)人
徐书辰
申请人
申请人地址
056600 河北省邯郸市临漳县邺都工业园
IPC主分类号
G01R2702
IPC分类号
G01R104
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
可控硅检测装置 [P]. 
付建忠 ;
李吉虎 .
中国专利 :CN203396906U ,2014-01-15
[2]
可控硅检测电路 [P]. 
王勇 ;
吴志明 ;
白清利 ;
刘建伟 ;
董晓勇 .
中国专利 :CN201555929U ,2010-08-18
[3]
可控硅检测装置 [P]. 
梁武斌 .
中国专利 :CN203572923U ,2014-04-30
[4]
可控硅在线检测装置 [P]. 
张铨基 ;
陈庆九 ;
郑宝仲 ;
张锋 ;
范绯 ;
张清 .
中国专利 :CN203587756U ,2014-05-07
[5]
可控硅压紧装置 [P]. 
张铨基 ;
陈庆九 ;
郭彩霞 ;
范绯 ;
张清 .
中国专利 :CN204166002U ,2015-02-18
[6]
可控硅组件及可控硅整流装置 [P]. 
梁国胜 ;
吴建安 .
中国专利 :CN202930378U ,2013-05-08
[7]
可控硅检测仪及可控硅性能检测方法 [P]. 
孟轩 ;
金勇范 .
中国专利 :CN114047419A ,2022-02-15
[8]
可控硅检测仪及可控硅性能检测方法 [P]. 
孟轩 ;
金勇范 .
中国专利 :CN114047419B ,2024-06-07
[9]
双向可控硅 [P]. 
李永慎 ;
冯子源 .
中国专利 :CN2671130Y ,2005-01-12
[10]
可控硅电路 [P]. 
严昭江 ;
严俊绮 ;
刘少平 .
中国专利 :CN217157124U ,2022-08-09