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电子元件测试装置及电子设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202211001641.X
申请日
:
2022-08-19
公开(公告)号
:
CN117630631A
公开(公告)日
:
2024-03-01
发明(设计)人
:
张敏
李光磊
刘洋
陈号
申请人
:
华为技术有限公司
申请人地址
:
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
:
张小丽
法律状态
:
公开
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-03-01
公开
公开
2025-06-10
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20220819
共 50 条
[1]
电子元件测试装置
[P].
山下毅
论文数:
0
引用数:
0
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0
山下毅
.
中国专利
:CN103185849A
,2013-07-03
[2]
电子元件测试装置及电子元件的测试方法
[P].
金子裕史
论文数:
0
引用数:
0
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0
金子裕史
;
山下和之
论文数:
0
引用数:
0
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0
山下和之
.
中国专利
:CN101563620A
,2009-10-21
[3]
电子元件测试装置
[P].
卢昱呈
论文数:
0
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0
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0
卢昱呈
;
林冠龙
论文数:
0
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0
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0
林冠龙
;
吴振维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴振维
.
中国专利
:CN217787187U
,2022-11-11
[4]
电子元件测试装置
[P].
卢昱呈
论文数:
0
引用数:
0
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0
卢昱呈
;
林芳旭
论文数:
0
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0
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0
林芳旭
.
中国专利
:CN115508584A
,2022-12-23
[5]
电子元件测试装置
[P].
肖旭辉
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0
引用数:
0
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0
肖旭辉
.
中国专利
:CN205484609U
,2016-08-17
[6]
电子元件测试装置
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
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0
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机构:
浙江三花智能控制股份有限公司
浙江三花智能控制股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
浙江三花智能控制股份有限公司
浙江三花智能控制股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
浙江三花智能控制股份有限公司
浙江三花智能控制股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
浙江三花智能控制股份有限公司
浙江三花智能控制股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
浙江三花智能控制股份有限公司
浙江三花智能控制股份有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN118294724A
,2024-07-05
[7]
电子元件测试装置
[P].
徐铭阳
论文数:
0
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0
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徐铭阳
;
胡冲
论文数:
0
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胡冲
;
鲍军其
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0
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鲍军其
;
王昭敦
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0
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0
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王昭敦
.
中国专利
:CN217466472U
,2022-09-20
[8]
电子元件测试装置
[P].
陈建名
论文数:
0
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陈建名
;
吕孟恭
论文数:
0
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吕孟恭
;
陈勇志
论文数:
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0
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0
陈勇志
.
中国专利
:CN110542802A
,2019-12-06
[9]
电子元件测试装置
[P].
张峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
张峰
.
中国专利
:CN207164175U
,2018-03-30
[10]
电子元件测试装置
[P].
岛田健一
论文数:
0
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岛田健一
;
山下和之
论文数:
0
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0
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0
山下和之
.
中国专利
:CN101512357A
,2009-08-19
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