电子元件测试装置及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211001641.X
申请日
2022-08-19
公开(公告)号
CN117630631A
公开(公告)日
2024-03-01
发明(设计)人
张敏 李光磊 刘洋 陈号
申请人
华为技术有限公司
申请人地址
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
张小丽
法律状态
公开
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
电子元件测试装置 [P]. 
山下毅 .
中国专利 :CN103185849A ,2013-07-03
[2]
电子元件测试装置及电子元件的测试方法 [P]. 
金子裕史 ;
山下和之 .
中国专利 :CN101563620A ,2009-10-21
[3]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林冠龙 ;
吴振维 .
中国专利 :CN217787187U ,2022-11-11
[4]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林芳旭 .
中国专利 :CN115508584A ,2022-12-23
[5]
电子元件测试装置 [P]. 
肖旭辉 .
中国专利 :CN205484609U ,2016-08-17
[6]
电子元件测试装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118294724A ,2024-07-05
[7]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217466472U ,2022-09-20
[8]
电子元件测试装置 [P]. 
陈建名 ;
吕孟恭 ;
陈勇志 .
中国专利 :CN110542802A ,2019-12-06
[9]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN207164175U ,2018-03-30
[10]
电子元件测试装置 [P]. 
岛田健一 ;
山下和之 .
中国专利 :CN101512357A ,2009-08-19