硅片承载装置和硅片检测方法

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专利类型
发明
申请号
CN202311609625.3
申请日
2023-11-29
公开(公告)号
CN117637555A
公开(公告)日
2024-03-01
发明(设计)人
李杰
申请人
西安奕斯伟材料科技股份有限公司 西安奕斯伟硅片技术有限公司
申请人地址
710000 陕西省西安市高新区西沣南路1888号1-3-029室
IPC主分类号
H01L21/673
IPC分类号
H01L21/67
代理机构
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
李清风
法律状态
公开
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
硅片承载装置和硅片检测方法 [P]. 
舒斌 ;
刘浩志 ;
栗宏骁 .
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[2]
硅片检测方法及其所用的硅片承载装置 [P]. 
张济蕾 ;
邓浩 ;
李梦飞 ;
姚宏 .
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[3]
硅片承载装置 [P]. 
曹智 ;
赵乾 .
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[4]
硅片承载装置 [P]. 
李海楠 ;
朱道峰 ;
马南 ;
要博卿 .
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[5]
硅片承载装置、硅片运输装置和硅片印刷设备 [P]. 
郝晓波 .
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[6]
硅片承载装置 [P]. 
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[7]
硅片承载装置 [P]. 
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张宝庆 ;
刘哲伟 ;
朱道峰 ;
马南 ;
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[8]
硅片承载装置 [P]. 
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[9]
硅片承载装置 [P]. 
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邹冰艳 ;
吴煜东 ;
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[10]
硅片承载装置 [P]. 
李海楠 ;
王慧杰 ;
张宝庆 ;
刘哲伟 ;
朱道峰 ;
马南 ;
要博卿 ;
王晶晶 .
中国专利 :CN112151428B ,2024-11-01