一种晶圆静电测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202322187707.5
申请日
2023-08-15
公开(公告)号
CN220584351U
公开(公告)日
2024-03-12
发明(设计)人
陈万元 文国昇 金从龙
申请人
江西兆驰半导体有限公司
申请人地址
330000 江西省南昌市高新技术产业开发区天祥北大道1717号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R31/00
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
徐超
法律状态
授权
国省代码
河北省 保定市
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共 50 条
[1]
一种晶圆级测试装置 [P]. 
顾培东 ;
胡依光 .
中国专利 :CN207557414U ,2018-06-29
[2]
一种晶圆封装测试装置 [P]. 
袁露露 .
中国专利 :CN221351677U ,2024-07-16
[3]
一种晶圆封装测试装置 [P]. 
叶明明 .
中国专利 :CN214409194U ,2021-10-15
[4]
晶圆漏电测试装置 [P]. 
李福全 .
中国专利 :CN211014592U ,2020-07-14
[5]
一种新型静电放电测试装置 [P]. 
杨洪亮 ;
何琼琼 .
中国专利 :CN214041578U ,2021-08-24
[6]
一种用于晶圆测试的测试装置 [P]. 
廉哲 ;
张爱林 ;
郭孝明 ;
徐鹏嵩 .
中国专利 :CN221124667U ,2024-06-11
[7]
晶圆夹具、晶圆测试装置 [P]. 
刘华 .
中国专利 :CN220731488U ,2024-04-05
[8]
晶圆测试装置 [P]. 
江静 ;
包峰 .
中国专利 :CN217239428U ,2022-08-19
[9]
晶圆测试装置 [P]. 
吴俊 ;
熊强 ;
袁志伟 .
中国专利 :CN206931563U ,2018-01-26
[10]
晶圆测试装置 [P]. 
陈剑锋 ;
竹敏 ;
梁振兴 ;
孟令成 .
中国专利 :CN207367923U ,2018-05-15