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光检测装置以及电子装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010155438.2
申请日
:
2020-03-09
公开(公告)号
:
CN112540385B
公开(公告)日
:
2024-04-26
发明(设计)人
:
T·T·塔
崔明秀
大国英德
杉本俊贵
申请人
:
株式会社东芝
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01S17/931
IPC分类号
:
G01S17/10
G01S17/89
G01S7/4863
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
肖靖
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-26
授权
授权
共 50 条
[1]
光检测装置以及电子装置
[P].
T·T·塔
论文数:
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T·T·塔
;
崔明秀
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崔明秀
;
大国英德
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大国英德
;
杉本俊贵
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杉本俊贵
.
中国专利
:CN112540385A
,2021-03-23
[2]
光检测装置以及电子装置
[P].
T·T·塔
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T·T·塔
;
崔明秀
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崔明秀
;
杉本俊贵
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杉本俊贵
.
中国专利
:CN114910882A
,2022-08-16
[3]
光检测装置以及电子装置
[P].
T·T·塔
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T·T·塔
;
崔明秀
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崔明秀
;
大国英德
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大国英德
;
杉本俊贵
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杉本俊贵
.
中国专利
:CN112540361A
,2021-03-23
[4]
光检测模块以及光检测装置
[P].
川田高弘
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川田高弘
;
北田菜津子
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北田菜津子
;
武石贵明
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武石贵明
;
野崎孝明
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野崎孝明
.
中国专利
:CN112639447A
,2021-04-09
[5]
光检测装置以及光检测装置的制造方法
[P].
森下胜
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
森下胜
.
日本专利
:CN112514071B
,2024-08-13
[6]
光检测装置以及光检测装置的制造方法
[P].
森下胜
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森下胜
.
中国专利
:CN112514071A
,2021-03-16
[7]
传感检测装置以及电子设备
[P].
神田荣二
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神田荣二
;
石黑英人
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石黑英人
;
江口司
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江口司
;
藤田彻司
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藤田彻司
;
山本英利
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山本英利
.
中国专利
:CN102727212B
,2012-10-17
[8]
光检测装置
[P].
后藤晃一
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后藤晃一
.
中国专利
:CN101943601A
,2011-01-12
[9]
光检测装置及电子装置
[P].
横地界斗
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
横地界斗
;
小笠原隆行
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
小笠原隆行
;
高桥圣基
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
高桥圣基
;
宫田晃次
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
宫田晃次
;
高濑博章
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
高濑博章
.
日本专利
:CN118974932A
,2024-11-15
[10]
光检测装置及电子装置
[P].
岛田翔平
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
岛田翔平
;
关根辽太郎
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
关根辽太郎
;
村濑拓郎
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
村濑拓郎
;
大竹悠介
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
大竹悠介
;
若野寿史
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
若野寿史
.
日本专利
:CN118355504A
,2024-07-16
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