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光检测装置以及电子装置
被引:0
申请号
:
CN202110979483.4
申请日
:
2021-08-25
公开(公告)号
:
CN114910882A
公开(公告)日
:
2022-08-16
发明(设计)人
:
T·T·塔
崔明秀
杉本俊贵
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01S7481
IPC分类号
:
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
李今子
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/481 申请日:20210825
2022-08-16
公开
公开
共 50 条
[1]
光检测装置以及电子装置
[P].
T·T·塔
论文数:
0
引用数:
0
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0
T·T·塔
;
崔明秀
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崔明秀
;
大国英德
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大国英德
;
杉本俊贵
论文数:
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杉本俊贵
.
中国专利
:CN112540385A
,2021-03-23
[2]
光检测装置以及电子装置
[P].
T·T·塔
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0
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0
T·T·塔
;
崔明秀
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崔明秀
;
大国英德
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大国英德
;
杉本俊贵
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杉本俊贵
.
中国专利
:CN112540361A
,2021-03-23
[3]
光检测装置以及电子装置
[P].
T·T·塔
论文数:
0
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机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
T·T·塔
;
崔明秀
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机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
崔明秀
;
大国英德
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机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
大国英德
;
杉本俊贵
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机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
杉本俊贵
.
日本专利
:CN112540385B
,2024-04-26
[4]
光检测模块以及光检测装置
[P].
川田高弘
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川田高弘
;
北田菜津子
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北田菜津子
;
武石贵明
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武石贵明
;
野崎孝明
论文数:
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野崎孝明
.
中国专利
:CN112639447A
,2021-04-09
[5]
光检测装置以及光检测装置的制造方法
[P].
森下胜
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
森下胜
.
日本专利
:CN112514071B
,2024-08-13
[6]
光检测装置以及光检测装置的制造方法
[P].
森下胜
论文数:
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0
森下胜
.
中国专利
:CN112514071A
,2021-03-16
[7]
光检测装置及电子装置
[P].
岛田翔平
论文数:
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
岛田翔平
;
关根辽太郎
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
关根辽太郎
;
村濑拓郎
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
村濑拓郎
;
大竹悠介
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
大竹悠介
;
若野寿史
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0
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
若野寿史
.
日本专利
:CN118355504A
,2024-07-16
[8]
光检测装置和电子装置
[P].
长滨嘉彦
论文数:
0
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0
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
长滨嘉彦
.
日本专利
:CN119967917A
,2025-05-09
[9]
光检测装置、以及电子设备
[P].
清水隆行
论文数:
0
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清水隆行
;
平松卓磨
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平松卓磨
;
生田吉纪
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生田吉纪
;
佐藤秀树
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0
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佐藤秀树
.
中国专利
:CN112068148A
,2020-12-11
[10]
光检测装置以及电子设备
[P].
清水隆行
论文数:
0
引用数:
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h-index:
0
清水隆行
.
中国专利
:CN109196662A
,2019-01-11
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