光检测装置和电子装置

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专利类型
发明
申请号
CN202510082758.2
申请日
2019-10-15
公开(公告)号
CN119967917A
公开(公告)日
2025-05-09
发明(设计)人
长滨嘉彦
申请人
索尼半导体解决方案公司
申请人地址
日本神奈川县
IPC主分类号
H10F39/12
IPC分类号
H10F39/18
代理机构
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人
王新春;姚鹏
法律状态
公开
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共 50 条
[1]
光检测装置和电子装置 [P]. 
纳土晋一郎 .
日本专利 :CN115763507B ,2025-06-17
[2]
光检测装置和电子装置 [P]. 
林利彦 ;
定荣正大 ;
村田贤一 ;
平田晋太郎 .
日本专利 :CN118471998A ,2024-08-09
[3]
光检测装置及电子装置 [P]. 
岛田翔平 ;
关根辽太郎 ;
村濑拓郎 ;
大竹悠介 ;
若野寿史 .
日本专利 :CN118355504A ,2024-07-16
[4]
光检测装置以及电子装置 [P]. 
T·T·塔 ;
崔明秀 ;
杉本俊贵 .
中国专利 :CN114910882A ,2022-08-16
[5]
光检测设备和电子装置 [P]. 
柳田刚志 ;
滝沢正明 ;
西村雄二 ;
荒川伸一 ;
中村雄吾 ;
千叶洋平 .
日本专利 :CN119996863A ,2025-05-13
[6]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山岸肇 .
日本专利 :CN120202741A ,2025-06-24
[7]
光检测装置和电子设备 [P]. 
坂东雅史 .
日本专利 :CN120712787A ,2025-09-26
[8]
光检测装置和电子设备 [P]. 
内田哲弥 ;
平野智之 ;
铃木亮司 .
日本专利 :CN118299390A ,2024-07-05
[9]
光检测装置和电子设备 [P]. 
松本晃 .
日本专利 :CN119908182A ,2025-04-29
[10]
光检测装置和电子设备 [P]. 
山下浩史 ;
冨田知大 ;
田中晴美 .
日本专利 :CN118866923A ,2024-10-29