一种电子器件结温的测量方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810739764.0

申请日：

2018-07-06

公开(公告)号：

CN108680849B

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

吕贤亮黄东巍麻力孙明任翔

申请人：

中国电子技术标准化研究院

申请人地址：

100007 北京市东城区安定门东大街1号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

北京思海天达知识产权代理有限公司 11203

代理人：

张立改

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子器件结温的测量方法和装置 [P].

吕贤亮 ;

黄东巍 ;

麻力 ;

孙明 ;

任翔 .

中国专利 :CN108680849A ,2018-10-19

[2]

一种电子器件结温的测量装置 [P].

吕贤亮 ;

麻力 ;

孙明 ;

任翔 .

中国专利 :CN208568973U ,2019-03-01

[3]

变流器电力电子器件的结温测量方法、装置和设备 [P].

谢宁 ;

林文智 ;

王正磊 ;

陈钰凯 ;

赵伟 ;

王宗义 .

中国专利 :CN118730335A ,2024-10-01

[4]

磁电子器件和测量方法 [P].

R.赫特尔 ;

颜明 .

中国专利 :CN102439745A ,2012-05-02

[5]

电力电子器件的瞬态时间测量装置、结温测量系统及方法 [P].

张曦春 ;

徐霄宇 .

中国专利 :CN113589126A ,2021-11-02

[6]

一种GaN器件结温测量电路及测量方法 [P].

王凯宏 ;

朱一荻 ;

邾玢鑫 ;

赵浩 ;

鲁金科 .

中国专利 :CN114720837A ,2022-07-08

[7]

一种GaN器件结温测量电路及测量方法 [P].

王凯宏 ;

鲁金科 ;

邾玢鑫 ;

赵浩 ;

朱一荻 .

中国专利 :CN114720837B ,2024-09-10

[8]

一种Cascode结构GaN电力电子器件结温快速精确测量方法 [P].

黄火林 ;

赵程 .

中国专利 :CN113533922B ,2021-10-22

[9]

便于结温检测的功率半导体器件及其结温测量方法 [P].

田鸿昌 ;

张弦 ;

何晓宁 ;

陈晓炜 .

中国专利 :CN112946450A ,2021-06-11

[10]

一种IGBT结温测量方法和测量装置 [P].

邬亮 ;

童乔凌 ;

江佳 ;

闵闰 ;

陈晓飞 ;

张烨 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN111220891B ,2020-06-02

← 1 2 3 4 5 →