半导体器件及其制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311694450.0
申请日
2023-12-08
公开(公告)号
CN117673092A
公开(公告)日
2024-03-08
发明(设计)人
常冰岩 冯远皓 薛广杰 李乐
申请人
武汉新芯集成电路制造有限公司
申请人地址
430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
IPC主分类号
H01L27/12
IPC分类号
H01L21/762 H01L29/78 H01L21/768
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
周耀君
法律状态
公开
国省代码
湖北省 武汉市
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共 50 条
[1]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
常冰岩 ;
冯远皓 ;
薛广杰 ;
李乐 .
中国专利 :CN117673092B ,2024-11-12
[2]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
李乐 .
中国专利 :CN113241375B ,2021-08-10
[3]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
朱慧珑 ;
梁擎擎 ;
骆志炯 ;
尹海洲 .
中国专利 :CN102956647A ,2013-03-06
[4]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
田国军 ;
张伟光 ;
高志强 ;
王同信 .
中国专利 :CN118471926B ,2025-01-07
[5]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
朱慧珑 ;
梁擎擎 ;
骆志炯 ;
尹海洲 .
中国专利 :CN102956703B ,2013-03-06
[6]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
田国军 ;
张伟光 ;
高志强 ;
王同信 .
中国专利 :CN118471926A ,2024-08-09
[7]
半导体器件的制造方法 [P]. 
朱奎 ;
薛广杰 .
中国专利 :CN113903661A ,2022-01-07
[8]
半导体器件的制造方法 [P]. 
薛广杰 ;
朱奎 .
中国专利 :CN113903660B ,2022-01-07
[9]
半导体器件制造方法 [P]. 
徐伟中 ;
叶彬 ;
马桂英 .
中国专利 :CN102468172B ,2012-05-23
[10]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
鲁林芝 ;
李乐 .
中国专利 :CN113421869B ,2021-09-21