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一种半导体用超声波缺陷检测设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311503227.3
申请日：
2023-11-13
公开(公告)号：
CN117233265B
公开(公告)日：
2024-01-26
发明(设计)人：
张伟江
陶银娇
申请人：
常州康捷智能装备有限公司
申请人地址：
213000 江苏省常州市新北区华山中路23号
IPC主分类号：
G01N29/27
IPC分类号：
G01N29/22
G01N29/04
B65G47/90
B65G65/32
代理机构：
常州万为知识产权代理事务所(普通合伙) 32441
代理人：
王婷婷
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-12-05 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移IPC(主分类):G01N 29/27登记生效日:20251119变更事项:专利权人变更前权利人:常州康捷智能装备有限公司变更后权利人:常州龙米软件有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:213000 江苏省常州市新北区华山中路23号变更后权利人:213000 江苏省常州市新北区华山中路23号2号楼310室 |
| 2024-01-02 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 29/27申请日:20231113 |
| 2024-01-26 | 授权 | 授权 |