一种光学元件面形非接触式检测装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410036682.5

申请日：

2024-01-10

公开(公告)号：

CN117921541A

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

陈林李杰

申请人：

中国科学院光电技术研究所

申请人地址：

610209 四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

B24B49/04

IPC分类号：

G01B11/24

代理机构：

北京科迪生专利代理有限责任公司 11251

代理人：

邓治平

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B24B 49/04申请日:20240110
2024-04-26	公开	公开

共 50 条

[1]

光学元件面形在位检测装置 [P].

廖德锋 ;

谢瑞清 ;

赵世杰 ;

陈贤华 ;

王健 ;

陈健 ;

赵智亮 ;

许乔 .

中国专利 :CN205262414U ,2016-05-25

[2]

一种光学元件面形检测方法及装置 [P].

田爱玲 ;

苏嘉明 ;

刘丙才 ;

朱学亮 ;

王红军 ;

王思淇 .

中国专利 :CN119245546A ,2025-01-03

[3]

一种光学元件面形在位检测装置 [P].

边心田 ;

程菊 ;

左芬 .

中国专利 :CN206862285U ,2018-01-09

[4]

一种光学元件面形检测方法及系统、设备 [P].

胡海翔 ;

张学军 ;

田明森 ;

李明茁 .

中国专利 :CN120403490A ,2025-08-01

[5]

一种光学元件面形检测方法及系统、设备 [P].

胡海翔 ;

张学军 ;

田明森 ;

李明茁 .

中国专利 :CN120403490B ,2025-08-29

[6]

光学元件面形在位检测装置及其检测方法 [P].

廖德锋 ;

谢瑞清 ;

赵世杰 ;

陈贤华 ;

王健 ;

陈健 ;

赵智亮 ;

许乔 .

中国专利 :CN105043296A ,2015-11-11

[7]

非接触式检测装置及检测方法 [P].

令龙军 ;

王锐 ;

赖敬文 .

中国专利 :CN112050729A ,2020-12-08

[8]

一种基于激光跟踪仪非接触式测量大口径光学元件面形的方法 [P].

杨杰 ;

李杰 ;

陈林 .

中国专利 :CN111023971A ,2020-04-17

[9]

一种叶片非接触式检测装置及方法 [P].

张旭 ;

郑泽龙 ;

蔡永凯 ;

浦栋麟 .

中国专利 :CN108458659A ,2018-08-28

[10]

一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法 [P].

李潇潇 ;

张志恒 ;

张效宇 ;

曹杰君 ;

曹兆楼 ;

咸冯林 .

中国专利 :CN109974583B ,2024-03-26

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