一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910287491.5

申请日：

2019-04-11

公开(公告)号：

CN109974583B

公开(公告)日：

2024-03-26

发明(设计)人：

李潇潇张志恒张效宇曹杰君曹兆楼咸冯林

申请人：

南京信息工程大学

申请人地址：

211500 江苏省南京市江北新区宁六路219号

IPC主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/25 G01B5/20 G01B5/004 G01B11/03 G01B11/06 G01B5/06

代理机构：

南京钟山专利代理有限公司 32252

代理人：

上官凤栖

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省宁波市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-26	授权	授权

共 50 条

[1]

一种非接触光学元件表面面形测量装置 [P].

李潇潇 ;

张志恒 ;

张效宇 ;

曹杰君 ;

曹兆楼 ;

咸冯林 .

中国专利 :CN209623618U ,2019-11-12

[2]

一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法 [P].

李潇潇 ;

张志恒 ;

张效宇 ;

曹杰君 ;

曹兆楼 ;

咸冯林 .

中国专利 :CN109974583A ,2019-07-05

[3]

一种光学元件双表面面形测量方法 [P].

刘磊 ;

张效栋 ;

李泽骁 ;

王冬雪 ;

李卓桐 ;

张宏舜 .

中国专利 :CN117146736B ,2024-08-23

[4]

一种大陡度光学元件表面面形的测量方法 [P].

王伟 ;

杨志鹏 ;

徐敏 .

中国专利 :CN118936306A ,2024-11-12

[5]

一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P].

杨向通 ;

冯鹰 .

中国专利 :CN213985023U ,2021-08-17

[6]

一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P].

王曰明 ;

李明富 ;

梁邦远 ;

王世雷 ;

孙佳卓 .

中国专利 :CN210268551U ,2020-04-07

[7]

一种非接触光学元件中心厚度测量装置及测量方法 [P].

刘钰 ;

苗亮 ;

张文龙 ;

马冬梅 ;

金春水 .

中国专利 :CN105571499A ,2016-05-11

[8]

一种光学元件面形非接触式检测装置及方法 [P].

陈林 ;

李杰 .

中国专利 :CN117921541A ,2024-04-26

[9]

长程光学表面面形检测装置及检测方法 [P].

彭川黔 .

中国专利 :CN110926367A ,2020-03-27

[10]

一种光学元件表面测量装置及方法 [P].

高勋 ;

黄建兵 ;

于海龙 ;

黄建明 ;

潘亚雷 .

中国专利 :CN119334268A ,2025-01-21

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