一种大陡度光学元件表面面形的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410996820.4

申请日：

2024-07-24

公开(公告)号：

CN118936306A

公开(公告)日：

2024-11-12

发明(设计)人：

王伟杨志鹏徐敏

申请人：

复旦大学

申请人地址：

200000 上海市杨浦区邯郸路220号

IPC主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/24

代理机构：

郑州翊博专利代理事务所(普通合伙) 41155

代理人：

付红莉

法律状态：

公开

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-12	公开	公开
2024-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20240724

共 50 条

[1]

一种光学元件双表面面形测量方法 [P].

刘磊 ;

张效栋 ;

李泽骁 ;

王冬雪 ;

李卓桐 ;

张宏舜 .

中国专利 :CN117146736B ,2024-08-23

[2]

一种光学元件表面局部陡度面形误差干涉测量方法及装置 [P].

郝群 ;

胡摇 ;

石峰 ;

宋辞 ;

谢凌波 .

中国专利 :CN111895934A ,2020-11-06

[3]

一种非接触光学元件表面面形测量装置 [P].

李潇潇 ;

张志恒 ;

张效宇 ;

曹杰君 ;

曹兆楼 ;

咸冯林 .

中国专利 :CN209623618U ,2019-11-12

[4]

一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P].

王曰明 ;

李明富 ;

梁邦远 ;

王世雷 ;

孙佳卓 .

中国专利 :CN210268551U ,2020-04-07

[5]

一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法 [P].

李潇潇 ;

张志恒 ;

张效宇 ;

曹杰君 ;

曹兆楼 ;

咸冯林 .

中国专利 :CN109974583A ,2019-07-05

[6]

一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法 [P].

李潇潇 ;

张志恒 ;

张效宇 ;

曹杰君 ;

曹兆楼 ;

咸冯林 .

中国专利 :CN109974583B ,2024-03-26

[7]

一种光学平面面形的绝对干涉测量方法 [P].

陈凌峰 ;

任雅青 ;

李杰 ;

周桃庚 .

中国专利 :CN101762242A ,2010-06-30

[8]

光学元件表面应力的测量方法以及装置 [P].

程北 ;

朱海斌 .

中国专利 :CN114370962A ,2022-04-19

[9]

一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P].

杨向通 ;

冯鹰 .

中国专利 :CN213985023U ,2021-08-17

[10]

平面光学元件的面形偏差测量方法 [P].

江晓军 ;

刘正国 .

中国专利 :CN101672631B ,2010-03-17

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