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一种半导体芯片测试机
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311771930.2
申请日：
2023-12-21
公开(公告)号：
CN117740825A
公开(公告)日：
2024-03-22
发明(设计)人：
钱鑫
申请人：
芜湖华沅微电子有限公司
申请人地址：
241000 安徽省芜湖市弋江区芜湖高新技术产业开发区南区杨河路42号
IPC主分类号：
G01N21/95
IPC分类号：
G01N21/01
G01B11/30
代理机构：
安徽华普专利代理事务所(普通合伙) 34151
代理人：
高孝强
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
安徽省
芜湖市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-04-09 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/95申请日:20231221 |
| 2024-03-22 | 公开 | 公开 |