磁界の測定方法及びその装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20100125536

申请日：

2010-06-01

公开(公告)号：

JP5697015B2

公开(公告)日：

2015-04-08

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01R33/02

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共 50 条

[1]

電磁界強度の測定方法及びその装置、電磁界強度分布の測定方法及びその装置電流電圧分布の測定方法及びその装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2002084311A1 ,2004-08-05

[2]

磁界センサ及びその測定方法[ja] [P].

HAN WENDU ;

CHEN LINFENG ;

SHIN VINIT ;

CHEN JINHUA ;

CHRIS WEJINYA UCHECHUKWU ;

HAN HO .

日本专利 :JP2025117509A ,2025-08-12

[3]

磁界センサ及びその測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7744470B2 ,2025-09-25

[4]

磁界測定装置及び磁界測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2013153949A1 ,2015-12-17

[5]

磁界測定装置及び磁界測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6977987B2 ,2021-12-08

[6]

磁界測定方法及び磁界測定装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2017098753A1 ,2017-12-14

[7]

磁界測定方法及び磁界測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6234619B2 ,2017-11-22

[8]

磁界測定装置及び磁界測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7312352B2 ,2023-07-21

[9]

粘性測定装置及びその測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6209757B2 ,2017-10-11

[10]

電磁界測定システム及び電磁界測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6494540B2 ,2019-04-03

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