磁界センサ及びその測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20240101961

申请日：

2024-06-25

公开(公告)号：

JP7744470B2

公开(公告)日：

2025-09-25

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01R33/09

IPC分类号：

G01R27/26 H10N50/10 H10N59/00

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共 50 条

[1]

磁界センサ及びその測定方法[ja] [P].

HAN WENDU ;

CHEN LINFENG ;

SHIN VINIT ;

CHEN JINHUA ;

CHRIS WEJINYA UCHECHUKWU ;

HAN HO .

日本专利 :JP2025117509A ,2025-08-12

[2]

磁気センサ、磁界の測定方法、電流センサ、および電流の測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6529885B2 ,2019-06-12

[3]

磁界の測定方法及びその装置[ja] [P].

日本专利 :JP5697015B2 ,2015-04-08

[4]

磁気センサ及びその感度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5616399B2 ,2014-10-29

[5]

磁気センサ及びその感度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6033801B2 ,2016-11-30

[6]

磁気センサ及びその感度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2008123144A1 ,2010-07-15

[7]

磁界測定装置及び磁界測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2013153949A1 ,2015-12-17

[8]

磁界測定装置及び磁界測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6977987B2 ,2021-12-08

[9]

磁界測定方法及び磁界測定装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2017098753A1 ,2017-12-14

[10]

磁界測定方法及び磁界測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6234619B2 ,2017-11-22

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