磁界センサ及びその測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20240101961
申请日
2024-06-25
公开(公告)号
JP2025117509A
公开(公告)日
2025-08-12
发明(设计)人
HAN WENDU CHEN LINFENG SHIN VINIT CHEN JINHUA CHRIS WEJINYA UCHECHUKWU HAN HO
申请人
HUZHOU JOUKING ELECTRONIC CO LTD
申请人地址
IPC主分类号
G01R33/09
IPC分类号
G01R27/26 H10N50/10 H10N59/00
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
磁界センサ及びその測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7744470B2 ,2025-09-25
[3]
磁界の測定方法及びその装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5697015B2 ,2015-04-08
[4]
磁気センサ及びその感度測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5616399B2 ,2014-10-29
[5]
磁気センサ及びその感度測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6033801B2 ,2016-11-30
[6]
磁気センサ及びその感度測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2008123144A1 ,2010-07-15
[7]
磁界測定装置及び磁界測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2013153949A1 ,2015-12-17
[8]
磁界測定装置及び磁界測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6977987B2 ,2021-12-08
[9]
磁界測定方法及び磁界測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2017098753A1 ,2017-12-14
[10]
磁界測定方法及び磁界測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6234619B2 ,2017-11-22