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磁界センサ及びその測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20240101961
申请日
:
2024-06-25
公开(公告)号
:
JP2025117509A
公开(公告)日
:
2025-08-12
发明(设计)人
:
HAN WENDU
CHEN LINFENG
SHIN VINIT
CHEN JINHUA
CHRIS WEJINYA UCHECHUKWU
HAN HO
申请人
:
HUZHOU JOUKING ELECTRONIC CO LTD
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R33/09
IPC分类号
:
G01R27/26
H10N50/10
H10N59/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
磁界センサ及びその測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7744470B2
,2025-09-25
[2]
磁気センサ、磁界の測定方法、電流センサ、および電流の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6529885B2
,2019-06-12
[3]
磁界の測定方法及びその装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5697015B2
,2015-04-08
[4]
磁気センサ及びその感度測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5616399B2
,2014-10-29
[5]
磁気センサ及びその感度測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6033801B2
,2016-11-30
[6]
磁気センサ及びその感度測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008123144A1
,2010-07-15
[7]
磁界測定装置及び磁界測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013153949A1
,2015-12-17
[8]
磁界測定装置及び磁界測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6977987B2
,2021-12-08
[9]
磁界測定方法及び磁界測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017098753A1
,2017-12-14
[10]
磁界測定方法及び磁界測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6234619B2
,2017-11-22
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