共 50 条
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表面測定装置、表面測定方法及び円形の被測定面を有する物体の表面測定方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20180219953
申请日：
2018-11-26
公开(公告)号：
JP7245033B2
公开(公告)日：
2023-03-23
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01C3/06
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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