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試料分析装置及び試料分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130551613
申请日
:
2012-12-14
公开(公告)号
:
JP6313977B2
公开(公告)日
:
2018-04-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N33/553
IPC分类号
:
G01N33/543
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[21]
試料分析装置及び方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7569821B2
,2024-10-18
[22]
試料分析装置及び方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7757246B2
,2025-10-21
[23]
試料分析装置及び方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7191901B2
,2022-12-19
[24]
試料分析用基板および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6548645B2
,2019-07-24
[25]
試料分析用基板および試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016002731A1
,2017-04-27
[26]
分析試料採取装置及び採取試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6575794B2
,2019-09-18
[27]
試料分析用基板、試料分析装置、試料分析システムおよび試料分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6977067B2
,2021-12-08
[28]
試料分析用基板、試料分析装置、試料分析システムおよび試料分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019156017A1
,2020-12-17
[29]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5993679B2
,2016-09-14
[30]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7299175B2
,2023-06-27
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