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試料分析装置及び試料分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130551613
申请日
:
2012-12-14
公开(公告)号
:
JP6313977B2
公开(公告)日
:
2018-04-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N33/553
IPC分类号
:
G01N33/543
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[41]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7157056B2
,2022-10-19
[42]
試料分析装置[ja]
[P].
KOBE TAKAMITSU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TAKANO CO LTD
TAKANO CO LTD
KOBE TAKAMITSU
;
MINEGISHI TAMOTSU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TAKANO CO LTD
TAKANO CO LTD
MINEGISHI TAMOTSU
;
DOI MAKOTO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TAKANO CO LTD
TAKANO CO LTD
DOI MAKOTO
.
日本专利
:JP2025105233A
,2025-07-10
[43]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6061302B2
,2017-01-18
[44]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7317982B2
,2023-07-31
[45]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018198207A1
,2019-11-07
[46]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6590795B2
,2019-10-16
[47]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6061298B2
,2017-01-18
[48]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5878138B2
,2016-03-08
[49]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015174430A1
,2017-04-20
[50]
試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7299174B2
,2023-06-27
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