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粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120509626
申请日
:
2011-04-01
公开(公告)号
:
JPWO2011125927A1
公开(公告)日
:
2013-07-11
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/00
IPC分类号
:
G01B11/08
G01B11/28
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
粒子測定方法および粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2022500643A
,2022-01-04
[2]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7611087B2
,2025-01-09
[3]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7097718B2
,2022-07-08
[4]
粒子測定方法および粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7411641B2
,2024-01-11
[5]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6549747B2
,2019-07-24
[6]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2009128233A1
,2011-08-04
[7]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5842050B2
,2016-01-13
[8]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
[P].
IMAI YASUHARU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
ADVANTEST CORP
ADVANTEST CORP
IMAI YASUHARU
;
WASHIZU SHINEI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
ADVANTEST CORP
ADVANTEST CORP
WASHIZU SHINEI
.
日本专利
:JP2024146354A
,2024-10-15
[9]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2009037804A1
,2011-01-06
[10]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2009093458A1
,2011-05-26
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