粒子測定装置および粒子測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20120509626
申请日
2011-04-01
公开(公告)号
JPWO2011125927A1
公开(公告)日
2013-07-11
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01B11/00
IPC分类号
G01B11/08 G01B11/28
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
粒子測定方法および粒子測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022500643A ,2022-01-04
[2]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7611087B2 ,2025-01-09
[3]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7097718B2 ,2022-07-08
[4]
粒子測定方法および粒子測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7411641B2 ,2024-01-11
[5]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6549747B2 ,2019-07-24
[6]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2009128233A1 ,2011-08-04
[7]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5842050B2 ,2016-01-13
[8]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P]. 
IMAI YASUHARU ;
WASHIZU SHINEI .
日本专利 :JP2024146354A ,2024-10-15
[9]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2009037804A1 ,2011-01-06
[10]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2009093458A1 ,2011-05-26