粒子測定装置および粒子測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20180033515
申请日
2018-02-27
公开(公告)号
JP7097718B2
公开(公告)日
2022-07-08
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N33/543
IPC分类号
G01N15/14
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
粒子測定方法および粒子測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022500643A ,2022-01-04
[2]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7611087B2 ,2025-01-09
[3]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011125927A1 ,2013-07-11
[4]
粒子測定方法および粒子測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7411641B2 ,2024-01-11
[5]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6549747B2 ,2019-07-24
[6]
粒子測定装置及び粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7421968B2 ,2024-01-25
[7]
粒子測定装置、及び粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5770255B2 ,2015-08-26
[8]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2009128233A1 ,2011-08-04
[10]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5842050B2 ,2016-01-13