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粒子測定方法および粒子測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210513912
申请日
:
2019-09-05
公开(公告)号
:
JP7411641B2
公开(公告)日
:
2024-01-11
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/88
IPC分类号
:
G01N21/53
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
粒子測定方法および粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2022500643A
,2022-01-04
[2]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7611087B2
,2025-01-09
[3]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011125927A1
,2013-07-11
[4]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7097718B2
,2022-07-08
[5]
粒子測定装置および粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6549747B2
,2019-07-24
[6]
粒子測定装置及び粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7421968B2
,2024-01-25
[7]
粒子測定装置、及び粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5770255B2
,2015-08-26
[8]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2009128233A1
,2011-08-04
[9]
粒子画像流速測定方法および粒子画像流速測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6497039B2
,2019-04-10
[10]
微粒子測定装置および微粒子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5842050B2
,2016-01-13
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