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分光器、波長測定装置及びスペクトル測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160137012
申请日
:
2016-07-11
公开(公告)号
:
JP6749633B2
公开(公告)日
:
2020-09-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01J3/36
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
スペクトル測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5637358B2
,2014-12-10
[2]
分光器およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6445814B2
,2018-12-26
[3]
波長測定装置及び波長測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2025168435A
,2025-11-07
[4]
スペクトル測定装置およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7275016B2
,2023-05-17
[5]
スペクトル測定装置、およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7276475B2
,2023-05-18
[6]
スペクトル測定装置およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7174952B2
,2022-11-18
[7]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016157676A1
,2018-01-25
[8]
スペクトル共焦点測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022541364A
,2022-09-26
[9]
スペクトル共焦点測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7410969B2
,2024-01-10
[10]
波長分解ストークスベクトル測定装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5740982B2
,2015-07-01
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