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スペクトル共焦点測定装置及び測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210557727
申请日
:
2020-06-11
公开(公告)号
:
JP2022541364A
公开(公告)日
:
2022-09-26
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/00
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
スペクトル共焦点測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7410969B2
,2024-01-10
[2]
スペクトル測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5637358B2
,2014-12-10
[3]
スペクトル測定装置およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7275016B2
,2023-05-17
[4]
スペクトル測定装置、およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7276475B2
,2023-05-18
[5]
スペクトル測定装置およびスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7174952B2
,2022-11-18
[6]
分光器、波長測定装置及びスペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6749633B2
,2020-09-02
[7]
スペックル測定装置およびスペックル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6852730B2
,2021-03-31
[8]
スペックル測定装置およびスペックル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017175470A1
,2019-02-14
[9]
中性子スペクトル測定装置および中性子スペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7429124B2
,2024-02-07
[10]
中性子スペクトル測定装置および中性子スペクトル測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7132787B2
,2022-09-07
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