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微小粒子測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140226991
申请日
:
2014-11-07
公开(公告)号
:
JP6015735B2
公开(公告)日
:
2016-10-26
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N15/14
IPC分类号
:
G01J3/02
G01J3/36
G01N21/64
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[41]
微小粒子测量装置
[P].
木村彰纪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
木村彰纪
;
本村麻子
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
本村麻子
;
杉山阳子
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杉山阳子
;
菅沼宽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
菅沼宽
.
中国专利
:CN111868504A
,2020-10-30
[42]
微小粒子検出装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5864009B1
,2016-02-17
[43]
微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6065527B2
,2017-01-25
[44]
微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6172147B2
,2017-08-02
[45]
微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7694568B2
,2025-06-18
[46]
レーザー照射装置および微小粒子測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5923859B2
,2016-05-25
[47]
観察容器及び微小粒子計測装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018221430A1
,2020-04-09
[48]
観察容器及び微小粒子計測装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7070566B2
,2022-05-18
[49]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014122873A1
,2017-01-26
[50]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6299609B2
,2018-03-28
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