微小粒子測定装置[ja]

被引:0
申请号
JP20140226991
申请日
2014-11-07
公开(公告)号
JP6015735B2
公开(公告)日
2016-10-26
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N15/14
IPC分类号
G01J3/02 G01J3/36 G01N21/64
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[41]
微小粒子测量装置 [P]. 
木村彰纪 ;
本村麻子 ;
杉山阳子 ;
菅沼宽 .
中国专利 :CN111868504A ,2020-10-30
[42]
微小粒子検出装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5864009B1 ,2016-02-17
[43]
微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6065527B2 ,2017-01-25
[44]
微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6172147B2 ,2017-08-02
[45]
微小粒子分取装置及び微小粒子分取方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7694568B2 ,2025-06-18
[46]
レーザー照射装置および微小粒子測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5923859B2 ,2016-05-25
[47]
観察容器及び微小粒子計測装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2018221430A1 ,2020-04-09
[48]
観察容器及び微小粒子計測装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7070566B2 ,2022-05-18
[49]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014122873A1 ,2017-01-26
[50]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P]. 
日本专利 :JP6299609B2 ,2018-03-28