微小粒子測定装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20140226991

申请日：

2014-11-07

公开(公告)号：

JP6015735B2

公开(公告)日：

2016-10-26

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N15/14

IPC分类号：

G01J3/02 G01J3/36 G01N21/64

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法律状态信息

共 50 条

[21]

微小粒子測定装置におけるデータ補正方法及び微小粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6206404B2 ,2017-10-04

[22]

接続部材及び微小粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6805560B2 ,2020-12-23

[23]

微小粒子捕捉装置[ja] [P].

日本专利 :JP6421589B2 ,2018-11-14

[24]

微小粒子分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP5841315B2 ,2016-01-13

[25]

微小粒子保持装置[ja] [P].

日本专利 :JP6679873B2 ,2020-04-15

[26]

微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP7601183B2 ,2024-12-17

[27]

微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP6741100B2 ,2020-08-19

[28]

微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP5765022B2 ,2015-08-19

[29]

微小粒子測定システム、および、微小粒子測定方法[ja] [P].

TORII MORIO ;

NODA SHUHEI ;

KAKINUMA TAKEYUKI ;

HASHIMOTO YUTA ;

MIZUUCHI RIEKO .

日本专利 :JP2025079873A ,2025-05-23

[30]

微小粒子計測システム、および、微小粒子計測方法[ja] [P].

TORII MORIO ;

NODA SHUHEI .

日本专利 :JP2025018503A ,2025-02-06

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