微小粒子測定システム、および、微小粒子測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20230192715

申请日：

2023-11-13

公开(公告)号：

JP2025079873A

公开(公告)日：

2025-05-23

发明(设计)人：

TORII MORIO NODA SHUHEI KAKINUMA TAKEYUKI HASHIMOTO YUTA MIZUUCHI RIEKO

申请人：

TOSHIBA CORP TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS & SOLUTIONS CORP

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N15/06

IPC分类号：

G01N15/00 G01N15/0227 G01N21/17

代理机构：

代理人：

法律状态：

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6860015B2 ,2021-04-14

[2]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018047441A1 ,2019-07-18

[3]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6860016B2 ,2021-04-14

[4]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018047442A1 ,2019-07-18

[5]

微小粒子計測システム、および、微小粒子計測方法[ja] [P].

TORII MORIO ;

NODA SHUHEI .

日本专利 :JP2025018503A ,2025-02-06

[6]

微小粒子の計測方法、微小粒子計測装置及び微小粒子計測システム[ja] [P].

日本专利 :JP7770886B2 ,2025-11-17

[7]

微小粒子計測装置、微小粒子計測方法、および微小粒子計測プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7362509B2 ,2023-10-17

[8]

微小粒子分析システム及び微小粒子分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP7028287B2 ,2022-03-02

[9]

微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P].

日本专利 :JPWO2014122873A1 ,2017-01-26

[10]

微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P].

日本专利 :JP6299609B2 ,2018-03-28

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