微小粒子計測装置、微小粒子計測方法、および微小粒子計測プログラム[ja]

被引：0

申请号：

JP20200030384

申请日：

2020-02-26

公开(公告)号：

JP7362509B2

公开(公告)日：

2023-10-17

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N15/06

IPC分类号：

G06T7/00 G06T7/60

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法律状态信息

共 50 条

[1]

微小粒子の計測方法、微小粒子計測装置及び微小粒子計測システム[ja] [P].

日本专利 :JP7770886B2 ,2025-11-17

[2]

微小粒子計測システム、および、微小粒子計測方法[ja] [P].

TORII MORIO ;

NODA SHUHEI .

日本专利 :JP2025018503A ,2025-02-06

[3]

微小粒子計測装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2019181803A1 ,2021-04-08

[4]

微小粒子計測装置[ja] [P].

日本专利 :JP7272348B2 ,2023-05-12

[5]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6860015B2 ,2021-04-14

[6]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018047441A1 ,2019-07-18

[7]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6860016B2 ,2021-04-14

[8]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018047442A1 ,2019-07-18

[9]

微小粒子測定システム、および、微小粒子測定方法[ja] [P].

TORII MORIO ;

NODA SHUHEI ;

KAKINUMA TAKEYUKI ;

HASHIMOTO YUTA ;

MIZUUCHI RIEKO .

日本专利 :JP2025079873A ,2025-05-23

[10]

微小粒子測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5772425B2 ,2015-09-02

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