微小粒子計測システム、および、微小粒子計測方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20230122245

申请日：

2023-07-27

公开(公告)号：

JP2025018503A

公开(公告)日：

2025-02-06

发明(设计)人：

TORII MORIO NODA SHUHEI

申请人：

TOSHIBA CORP TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS & SOLUTIONS CORP

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N15/0227

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日

法律状态

法律状态信息

共 50 条

[1]

微小粒子の計測方法、微小粒子計測装置及び微小粒子計測システム[ja] [P].

日本专利 :JP7770886B2 ,2025-11-17

[2]

微小粒子計測装置、微小粒子計測方法、および微小粒子計測プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7362509B2 ,2023-10-17

[3]

微小粒子測定システム、および、微小粒子測定方法[ja] [P].

TORII MORIO ;

NODA SHUHEI ;

KAKINUMA TAKEYUKI ;

HASHIMOTO YUTA ;

MIZUUCHI RIEKO .

日本专利 :JP2025079873A ,2025-05-23

[4]

微小粒子計測装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2019181803A1 ,2021-04-08

[5]

微小粒子計測装置[ja] [P].

日本专利 :JP7272348B2 ,2023-05-12

[6]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6860015B2 ,2021-04-14

[7]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018047441A1 ,2019-07-18

[8]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6860016B2 ,2021-04-14

[9]

微小粒子測定装置及び微小粒子測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018047442A1 ,2019-07-18

[10]

微小粒子分析システム及び微小粒子分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP7028287B2 ,2022-03-02

← 1 2 3 4 5 →