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二次元アレイX線検出器の検査方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120504415
申请日
:
2011-03-03
公开(公告)号
:
JPWO2011111590A1
公开(公告)日
:
2013-06-27
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01T1/24
IPC分类号
:
G01T7/00
H04N5/32
H04N5/367
H04N5/374
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
二次元画像検出器[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013057941A1
,2015-04-02
[2]
二次元画像検出器[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012014251A1
,2013-09-09
[3]
二次元画像検出器[ja]
[P].
日本专利
:JP5621939B2
,2014-11-12
[4]
二次元放射線検出器の製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6163936B2
,2017-07-19
[5]
二次元画像検出器および二次元画像検出器を用いた撮影装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2006073031A1
,2008-06-12
[6]
二次元画像検出器及びその製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013031128A1
,2015-03-23
[7]
二次元TOFパルス中性子検出器[ja]
[P].
日本专利
:JP6206948B2
,2017-10-04
[8]
二次元分布荷重中心位置検出センサおよび二次元分布荷重中心位置検出装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007069412A1
,2009-05-21
[9]
TFTアレイ検査の電子線走査方法およびTFTアレイ検査装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011155044A1
,2013-08-01
[10]
X線検査装置およびX線検査装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017203886A1
,2019-03-22
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