Ｘ線検査装置およびＸ線検査装置の制御方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20180519144

申请日：

2017-04-14

公开(公告)号：

JPWO2017203886A1

公开(公告)日：

2019-03-22

发明(设计)人：

申请人：

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IPC主分类号：

G01N23/046

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法律状态信息

共 50 条

[1]

Ｘ線検査装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2019130663A1 ,2020-12-17

[2]

Ｘ線検査装置[ja] [P].

日本专利 :JP2025179983A ,2025-12-11

[3]

ＴＦＴアレイ検査の電子線走査方法およびＴＦＴアレイ検査装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2011155044A1 ,2013-08-01

[4]

検査装置及び検査方法[ja] [P].

日本专利 :JP2025128576A ,2025-09-03

[5]

Ｘ線検査システム、Ｘ線画像化アクセサリ、検体支持体、キット、及びＸ線検査システムを使用する方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023530080A ,2023-07-13

[6]

検査装置、検査方法[ja] [P].

SASAKI TAKESHI .

日本专利 :JP2024010381A ,2024-01-24

[7]

二次元アレイＸ線検出器の検査方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2011111590A1 ,2013-06-27

[8]

Ｘ線撮像装置およびＸ線撮像素子の画像処理方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2019064632A1 ,2020-07-16

[9]

検出器台座及びＸ線回折装置[ja] [P].

SHIROMATA YUJI ;

KUJI ATSUSHI .

日本专利 :JP2024108448A ,2024-08-13

[10]

光ファイバリボンの検査方法および検査装置[ja] [P].

ISHIKAWA HIROKI ;

KUROKI TATSUYA ;

SONOYAMA YOSHITAKA ;

SATO FUMIAKI ;

TSUCHIYA KENTA ;

AMANO REO ;

KAWAI KENJI ;

SHIN HIROO ;

YOSHIKAWA SATOSHI ;

SAKABE ITARU .

日本专利 :JP2025059548A ,2025-04-10

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