Ｘ線検査装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20190562739

申请日：

2018-09-05

公开(公告)号：

JPWO2019130663A1

公开(公告)日：

2020-12-17

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N23/20008

IPC分类号：

G01N23/207

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法律状态信息

共 50 条

[1]

Ｘ線検査装置[ja] [P].

日本专利 :JP2025179983A ,2025-12-11

[2]

Ｘ線検査装置およびＸ線検査装置の制御方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2017203886A1 ,2019-03-22

[3]

検査装置、検査方法[ja] [P].

SASAKI TAKESHI .

日本专利 :JP2024010381A ,2024-01-24

[4]

Ｘ線検査システム、Ｘ線画像化アクセサリ、検体支持体、キット、及びＸ線検査システムを使用する方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023530080A ,2023-07-13

[5]

検査装置[ja] [P].

HATAKEYAMA MASAKI .

日本专利 :JP2022166082A ,2022-11-01

[6]

検査装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2018079742A1 ,2019-09-19

[7]

二次元アレイＸ線検出器の検査方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2011111590A1 ,2013-06-27

[8]

検査装置及び検査方法[ja] [P].

日本专利 :JP2025128576A ,2025-09-03

[9]

Ｘ線診断装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009128129A1 ,2011-08-04

[10]

光学検査装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2009139394A1 ,2011-09-22

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