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最適化されたゲート酸化物厚さを有するメモリデバイスの作成[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170210692
申请日
:
2017-10-31
公开(公告)号
:
JP6932876B2
公开(公告)日
:
2021-09-08
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/8234
IPC分类号
:
H01L21/308
H01L21/316
H01L21/82
H01L27/088
H01L27/10
H10B20/00
H10B69/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
最適化された使用特性を有するスパッタターゲット[ja]
[P].
日本专利
:JP2016501313A
,2016-01-18
[2]
薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7403706B2
,2023-12-22
[3]
薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023526693A
,2023-06-22
[4]
薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023504301A
,2023-02-02
[5]
薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7246581B2
,2023-03-27
[6]
安定化された金属酸化物層を有する光電デバイスの形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6181665B2
,2017-08-16
[7]
安定化された金属酸化物層を有する光電デバイスの形成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2015507353A
,2015-03-05
[8]
薄化された側縁部トンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023525396A
,2023-06-15
[9]
薄化された側縁部トンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7522869B2
,2024-07-25
[10]
パターン化されたリチウム系遷移金属酸化物を有するディスプレイデバイスを加工する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022524333A
,2022-05-02
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