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薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230500044
申请日
:
2021-02-23
公开(公告)号
:
JP7403706B2
公开(公告)日
:
2023-12-22
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01L21/336
IPC分类号
:
H01L21/3065
H01L29/788
H01L29/792
H10B41/30
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023526693A
,2023-06-22
[2]
薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7246581B2
,2023-03-27
[3]
薄膜化されたトンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023504301A
,2023-02-02
[4]
薄化された側縁部トンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023525396A
,2023-06-15
[5]
薄化された側縁部トンネル酸化物を有するスプリットゲート型メモリセルを形成する方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7522869B2
,2024-07-25
[6]
最適化されたゲート酸化物厚さを有するメモリデバイスの作成[ja]
[P].
日本专利
:JP6932876B2
,2021-09-08
[7]
消去ゲートを有する分割ゲートフラッシュメモリセルの製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2020536392A
,2020-12-10
[8]
曲線状のゲート酸化物プロファイルを有するスプリットゲート半導体素子[ja]
[P].
日本专利
:JP5932651B2
,2016-06-08
[9]
改善されたレート性能を有するリチウム金属酸化物を含有する電池[ja]
[P].
日本专利
:JP2017535027A
,2017-11-24
[10]
ゲート酸化物の漏れを抑えたリプレースメントゲートトランジスタ[ja]
[P].
日本专利
:JP6076755B2
,2017-02-08
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