パターン形成マスク用薄膜層付基体およびパターン化基体の製造方法[ja]

被引:0
申请号
JP20160574653
申请日
2016-01-28
公开(公告)号
JPWO2016129225A1
公开(公告)日
2017-11-09
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L21/027
IPC分类号
B29C33/38 B29C59/02
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
パターン形成用基体[ja] [P]. 
日本专利 :JP6439895B1 ,2018-12-19
[4]
[6]
パターン製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025159752A ,2025-10-22
[7]
隔壁パターン付き基板およびその製造方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2007148689A1 ,2010-01-07
[8]
パターン薄膜形成方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011021622A1 ,2013-01-24
[9]
パターン形成方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025164851A ,2025-10-30
[10]
パターン形成方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2024530585A ,2024-08-23