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リソグラフィ方法およびリソグラフィ装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180546744
申请日
:
2016-11-03
公开(公告)号
:
JP2018536907A
公开(公告)日
:
2018-12-13
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G03F9/00
IPC分类号
:
G01B11/00
G03F7/20
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
リソグラフィ方法及び装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2017524973A
,2017-08-31
[2]
検査装置、リソグラフィ装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7430194B2
,2024-02-09
[3]
検査装置、リソグラフィ装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022521571A
,2022-04-11
[4]
変位測定装置、変位測定方法およびフォトリソグラフィー装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7383048B2
,2023-11-17
[5]
変位測定装置、変位測定方法およびフォトリソグラフィー装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2022530149A
,2022-06-27
[6]
ターゲットの測定方法、基板、計測装置およびリソグラフィ装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6716779B2
,2020-07-01
[7]
ターゲットの測定方法、基板、計測装置およびリソグラフィ装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2019523449A
,2019-08-22
[8]
ラジオグラフィ測定装置及びラジオグラフィ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2008132849A1
,2010-07-22
[9]
位置測定装置、位置測定方法、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2015525883A
,2015-09-07
[10]
位置測定装置、位置測定方法、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5992103B2
,2016-09-14
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