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イオン分離方法および質量分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120506774
申请日
:
2010-12-13
公开(公告)号
:
JPWO2011118094A1
公开(公告)日
:
2013-07-04
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N27/62
IPC分类号
:
H01J49/42
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
質量分析装置および質量分離装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6006322B2
,2016-10-12
[2]
質量分析装置および質量分離装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014050836A1
,2016-08-22
[3]
イオン光学装置および質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2018503931A
,2018-02-08
[4]
イオン化装置および質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6231308B2
,2017-11-15
[5]
イオン光学装置および質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6376276B2
,2018-08-22
[6]
質量分析装置および質量分析装置用のイオン源[ja]
[P].
日本专利
:JP6874819B2
,2021-05-19
[7]
イオン化装置、質量分析装置およびイオン化方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6484318B2
,2019-03-13
[8]
イオントラップ質量分析装置および質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012014828A1
,2013-09-12
[9]
二次イオン質量分析装置および二次イオン質量分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6024292B2
,2016-11-16
[10]
質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源[ja]
[P].
日本专利
:JP6043568B2
,2016-12-14
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