イオン分離方法および質量分析装置[ja]

被引:0
申请号
JP20120506774
申请日
2010-12-13
公开(公告)号
JPWO2011118094A1
公开(公告)日
2013-07-04
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N27/62
IPC分类号
H01J49/42
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
質量分析装置および質量分離装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6006322B2 ,2016-10-12
[2]
質量分析装置および質量分離装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014050836A1 ,2016-08-22
[3]
イオン光学装置および質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2018503931A ,2018-02-08
[4]
イオン化装置および質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6231308B2 ,2017-11-15
[5]
イオン光学装置および質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6376276B2 ,2018-08-22
[6]
[7]
[8]
イオントラップ質量分析装置および質量分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2012014828A1 ,2013-09-12
[10]
質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源[ja] [P]. 
日本专利 :JP6043568B2 ,2016-12-14