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光パルス対生成装置、光検出装置、および光検出方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20200519536
申请日
:
2019-04-19
公开(公告)号
:
JP7169684B2
公开(公告)日
:
2022-11-11
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G02B21/06
IPC分类号
:
G01J11/00
G01N21/01
G01N21/65
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[21]
位置検出装置、位置検出方法、注視点検出装置、及び画像生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6430813B2
,2018-11-28
[22]
検査基準光生成装置,検査基準光生成方法,検査装置,検査方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6604127B2
,2019-11-13
[23]
改ざん検出方法、生成装置、生成プログラム、検出装置および検出プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP5987653B2
,2016-09-07
[24]
検出器生成装置、方法およびプログラム並びに画像検出装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6309417B2
,2018-04-11
[25]
検出装置及びスペクトル生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6999593B2
,2022-01-18
[26]
識別器生成装置およびパターン検出装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013186906A1
,2016-02-01
[27]
識別器生成装置およびパターン検出装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6121997B2
,2017-04-26
[28]
検出装置、モデル生成装置、検出方法及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP2024546337A
,2024-12-19
[29]
パルス光生成装置、光照射装置、光加工装置、光応答測定装置、顕微鏡装置、及びパルス光生成方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017169788A1
,2019-02-14
[30]
粒子検出器、画像生成装置および画像生成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7062547B2
,2022-05-06
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