带电粒子设备、带电粒子评估装置、测量方法以及监测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202280084052.4
申请日
2022-11-22
公开(公告)号
CN118414684A
公开(公告)日
2024-07-30
发明(设计)人
任岩 M·斯科特兹 A·V·G·曼格努斯 E·P·斯马克曼
申请人
ASML荷兰有限公司
申请人地址
荷兰维德霍温
IPC主分类号
H01J37/04
IPC分类号
H01J37/12 H01J37/244 H01J37/26 H01J37/28 H01J37/317
代理机构
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
姚宗妮
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
带电粒子装置和带电粒子设备 [P]. 
E·P·斯马克曼 ;
R·R·文斯特拉 ;
任岩 .
:CN120418924A ,2025-08-01
[2]
带电粒子装置、带电粒子投射方法、样品评估方法 [P]. 
A·L·罗德里格斯·曼萨诺 ;
E·斯洛特 ;
R·M·范莱文 .
:CN120390972A ,2025-07-29
[3]
带电粒子评估系统 [P]. 
J·范索伊斯特 ;
V·S·凯珀 ;
李瀛龙 .
:CN118402034A ,2024-07-26
[4]
带电粒子源、带电粒子枪、带电粒子束装置 [P]. 
城光寺佑树 ;
福田真大 ;
福本政幸 .
日本专利 :CN119404276A ,2025-02-07
[5]
带电粒子分析仪以及带电粒子分离方法 [P]. 
亚历山大·马卡洛夫 ;
阿娜斯塔赛奥斯·吉安娜卡欧普勒斯 .
中国专利 :CN102449729B ,2012-05-09
[6]
带电粒子装置 [P]. 
V·S·凯珀 ;
M·斯科特兹 .
:CN119487604A ,2025-02-18
[7]
带电粒子评估方法和系统 [P]. 
D·戴夫 ;
V·S·凯伯 .
:CN120283291A ,2025-07-08
[8]
带电粒子束描绘装置以及带电粒子束描绘方法 [P]. 
中山贵仁 .
中国专利 :CN109698106B ,2019-04-30
[9]
带电粒子枪以及带电粒子束系统 [P]. 
福田真大 ;
糟谷圭吾 ;
荒井纪明 .
日本专利 :CN115428114B ,2025-07-04
[10]
带电粒子枪以及带电粒子束系统 [P]. 
福田真大 ;
糟谷圭吾 ;
荒井纪明 .
中国专利 :CN115428114A ,2022-12-02