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带电粒子枪以及带电粒子束系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080099514.0
申请日
:
2020-04-23
公开(公告)号
:
CN115428114B
公开(公告)日
:
2025-07-04
发明(设计)人
:
福田真大
糟谷圭吾
荒井纪明
申请人
:
株式会社日立高新技术
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
H01J3/02
IPC分类号
:
H01J1/46
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
范胜杰;曹鑫
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-04
授权
授权
共 50 条
[1]
带电粒子枪以及带电粒子束系统
[P].
福田真大
论文数:
0
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福田真大
;
糟谷圭吾
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糟谷圭吾
;
荒井纪明
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荒井纪明
.
中国专利
:CN115428114A
,2022-12-02
[2]
带电粒子源、带电粒子枪、带电粒子束装置
[P].
城光寺佑树
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
城光寺佑树
;
福田真大
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
福田真大
;
福本政幸
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
福本政幸
.
日本专利
:CN119404276A
,2025-02-07
[3]
带电粒子枪和带电粒子束装置
[P].
河野祐二
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
河野祐二
;
泽田英敬
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
泽田英敬
;
池田昭浩
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
池田昭浩
.
日本专利
:CN119890012A
,2025-04-25
[4]
带电粒子束检查系统、带电粒子束检查方法
[P].
杜航
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
杜航
;
横须贺俊之
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
横须贺俊之
;
笹气裕子
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
笹气裕子
;
渡边康子
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
渡边康子
;
木村爱美
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
木村爱美
.
日本专利
:CN118476004A
,2024-08-09
[5]
带电粒子束系统
[P].
W.黄
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W.黄
;
J.A.诺特
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0
J.A.诺特
.
中国专利
:CN107275175B
,2017-10-20
[6]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置
[P].
松井秀树
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0
松井秀树
.
中国专利
:CN111624857A
,2020-09-04
[7]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置
[P].
野村春之
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野村春之
;
中山田宪昭
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中山田宪昭
.
中国专利
:CN114787958A
,2022-07-22
[8]
带电粒子束系统
[P].
平本和夫
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平本和夫
;
梅泽真澄
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梅泽真澄
;
藤高伸一郎
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藤高伸一郎
;
白土博树
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白土博树
;
清水伸一
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清水伸一
;
梅垣菊男
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0
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0
梅垣菊男
.
中国专利
:CN104548387A
,2015-04-29
[9]
带电粒子束描绘方法以及带电粒子束描绘装置
[P].
松井秀树
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0
机构:
纽富来科技股份有限公司
纽富来科技股份有限公司
松井秀树
.
日本专利
:CN111624857B
,2024-04-02
[10]
带电粒子束描绘装置以及带电粒子束描绘方法
[P].
中山贵仁
论文数:
0
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0
中山贵仁
.
中国专利
:CN109698106B
,2019-04-30
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